LAwave?薄膜和材料表面的無(wú)損檢測儀,利用脈沖激光誘導的聲表面波無(wú)損 檢測薄膜的彈性模量(楊氏模量),密度和厚 度。甚至可以表征多孔薄膜和表面存在微結構 的薄膜。 徃測薄膜的厚度可以低至幾個(gè)納米;徃測薄 膜可以是超硬薄膜,如DLC類(lèi)金剛石薄膜,也可以是超軟薄膜,如聚合物薄膜。對于表面粗 糙度丌太好的熱噴涂涂層也可以通過(guò)低頻聲波 測量。 薄膜彈性模量的測定有著(zhù)廣泛的應用需求, 是決定薄膜機械性能的重要指標,是薄膜內部 原子鍵合大小的重要標志。微結構和內部孔隙 會(huì )導致薄膜內部原子鍵合的缺失,相應的楊氏 模量也會(huì )發(fā)生變化,利用這一對應關(guān)系,可以 對薄膜中的孔隙和缺陷進(jìn)行評估。
產(chǎn)品特點(diǎn) :
無(wú)損測量;
薄膜厚度:幾納米到幾百微米;
薄膜種類(lèi):聚合物到金剛石;
測量時(shí)間:小于一分鐘 ;
高重復性;
操作簡(jiǎn)單,配置緊湊 ;
測試區域:最小 5×5 mm ;
對薄膜幾何形狀沒(méi)有要求;
對薄膜平整度要求低;
國際認證測量標準 EN 15042-1。
參考鏈接:http://wap.akcfsq.cn/product/show-83.aspx